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Neuer Humboldt-Stipendiat: Geladene Grenzflächen

Der neue Humboldt-Stipendiat an der FAU: Dr. Sunghwan Shin forscht an ionischen Flüssigkeiten. (Bild: Francesco Greco)

Dr. Sunghwan Shin erforscht an der FAU ionische Flüssigkeiten

Die FAU genießt international einen hervorragenden Ruf. Beweis für diese Reputation sind nicht zuletzt die vielen international renommierten Wissenschaftler, die sich die FAU als Gastuniversität aussuchen, um zusammen mit FAU-Kollegen im Rahmen eines Stipendiums oder Forschungspreises der Alexander-von-Humboldt-Stiftung zu forschen. Der Chemiker Dr. Sunghwan Shin forscht als Postdoc am Lehrstuhl für Physikalische Chemie II an ionischen Flüssigkeiten.

Die pure Neugier daran, wie die Welt aufgebaut ist, treibt den gebürtigen Koreaner Dr. Sunghwan Shin an: „Als ich in der Schule etwas über Säuren lernte, konnte ich nicht verstehen, warum Autoionisation von Wasser auftritt. Zu dieser Zeit konnte ich keine befriedigende Antwort finden, also entschloss ich mich, Chemie zu studieren. Heutzutage versuche ich als experimenteller physikalischer Chemiker zu verstehen, warum chemische Reaktionen auftreten.“ Und das macht Dr. Shin seit gut einem Jahr an der FAU, seit Februar 2019 als Humboldt-Stipendiat.

Am Lehrstuhl für Physikalische Chemie II erforscht Dr. Sunghwan Shin ionische Flüssigkeiten, auch flüssige Salze genannt. Diese bestehen nicht aus neutralen Molekülen, sondern, wie der Name schon sagt, aus Ionen. Ionische Flüssigkeiten verfügen über einzigartige Eigenschaften, die sie für zahlreiche Anwendungen interessant machen, beispielsweise in Batterien, Dichtungsmitteln oder grünen Lösungsmitteln. Dr. Shin konzentriert sich dabei auf die Eigenschaften ionischer Flüssigkeiten an geladenen Grenzflächen.

Dr. Sunghwan Shin hat Chemie an der koreanischen Seoul National University studiert, wo er auch promovierte und als Postdoc forschte. Seit Januar 2018 ist er am Lehrstuhl für Physikalische Chemie II tätig. Seine Forschungsschwerpunkte liegen auf experimenteller physikalischer Chemie und der Untersuchung von Oberflächen.

Weitere Informationen:

Pressestelle der FAU
Tel.: 09131/85-70229
presse@fau.de

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